E-kataloog ESTER / TÄIELIK

Pealkiri	Characterization of interfaces between the metal film and silicon carbide semiconductor = Metallkontakti ja ränikarbiidi vahelise liidespinna karakteriseerimine / Mehadi Hasan Ziko ; [supervisors: Ants Koel, Tamas Pardy ; Tallinn University of Technology, School of Information Technologies, Thomas Johann Seebeck Department of Electronics]
Autor	Ziko, Mehadi Hasan, 1983- autor
Ilmunud	Tallinn : TalTech Press, c2021
Ilmumiskoht	Harjumaa
Kirjeldus	161 lk. : ill. ; 25 cm

Püsilink	https://www.ester.ee/record=b5471196~S1*est

ASUKOHT	KOHAVIIT	STAATUS	MÄRKUSED
KMAR eesti raamat	B 93.388 52 [2021]	ARHIIVEKSEMPLAR	EI LAENUTATA
TalTech 4. k tehnikateadused	621.38/Z-66 52 [2021]	KOHAL
TalTech 4. k tehnikateadused	621.38/Z-66 52 [2021]	KOHAL
TalTech trükiste arhiiv 5. k	TTUarh-1 52 [2021]	KOHALKASUTUS
TLÜAR hoidla (kohalkasutus)	Vp.0.1481/2021,52 52 [2021]	KOHALKASUTUS
TÜR hoidla (30p)	Per.B-9862 52 [2021]	KOHAL
TÜR arhiivkogu	ARH Per.B-9862 52 [2021]	ARHIIVEKSEMPLAR
RR 3.k arhiivkogu	AR J-3933 52 [2021]	REMONDI AJAKS PAKITUD

Suurendus