TELLI DIGIKOOPIA

Sellest väljaandest saad tasulise teenusena tellida digikoopia.
Teenuse tingimused ja maksumus on raamatukogudes erinevad.

Leiti ...

TÄIELIK KATALOOG

Kontakt
Autor Lee, Na Ri
Pealkiri Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea / Na Ri Lee ; Univeristy of Vaasa
Ilmunud Vaasa : University of Vaasa, 2000
Kirjeldus 235 lk.
Püsilink https://www.ester.ee/record=b1394022~S1*est