TELLI DIGIKOOPIA

Sellest väljaandest saad tasulise teenusena tellida digikoopia.
Teenuse tingimused ja maksumus on raamatukogudes erinevad.

Leiti ...

TÄIELIK KATALOOG

Kontakt
Autor Bullis, W. Murray
Pealkiri Semiconductor measurement technology : survey of optical characterization methods for materials, processing, and manufacturing in the semiconductor industry / W. Murray Bullis, S. Perkowitz, D.G. Seiler
Ilmunud Gaithersburg (Md.) : NIST, 1995
Kirjeldus iv, 51 lk.
Püsilink https://www.ester.ee/record=b1005834~S1*est